Interferometrie ESPI

    Optický měřicí systém pro měření napětí a deformace založený na metodě Electronic Speckle Pattern Interferometry (ESPI)

    Optický měřicí systém pro měření napětí a deformace založený na metodě Electronic Speckle Pattern Interferometry

    Vývoj pokročilých materiálů a komponent vyžaduje studii jejich chování při zatížení za různých podmínek. Při těchto zkouškách jsou stále častěji využívány optické metody. Z výsledků měření můžeme snadněji pochopit rozložení napětí v materiálu, mechaniku vzniku trhlin a další. Systémy laserové interferometrie ESPI od dánské společnosti Dantec Dynamics jsou navrženy pro kompletní třírozměrnou, plnou a vysoce citlivou analýzu zatížení, deformací a vznikajícího napětí. Měření se provádí bezkontaktně v celém zorném poli použitých kamer a na téměř každém materiálu nebo komponentu/

    Oproti metodě DIC (korelace digitálního obrazu) poskytuje metoda měření ESPI tyto výhody:

    • Není potřeba, aby měl měřený komponent na povrchu vzorek / pattern (nejčastěji jsou používané černé tečky na bílém podkladu
    • Laserový interferometr (ESPI) dosahuje při měření výrazně vyšší přesnosti a to i při měření ve větším měřítku (viz. obrázek níže)

    Porovnání závislosti rozlišení na délce měřeného objektu u metod 3D DIC a 3D ESPI

    Obr. 1 – Porovnání závislosti rozlišení na délce měřeného objektu u metod 3D DIC a 3D ESPI